产品描述
上海盈沣元器件有限公司专业销售德国PHYNIX测厚仪,PHYNIX涂层测厚仪,PHYNIX测厚仪、PHYNIX膜厚仪、PHYNIX膜厚计
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德国PHYNIX分体式测厚仪Surfix
?特点:世界较新科技,手机外形
.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
自动识别量程:0-1500μm,
可测铁基体上涂镀层和有色金属
显示德国PHYNIX公司制造。
碳化钨**耐磨测头,特快反应速度
技术参数:
特点:世界较新科技,手机外形,较小测面积菜单操作,分辨率0.1μm,两类基体自动识别量程:0-1500μm,0-60mils,90°直角探头九种规格,统计值在线显示德国PHYNIX公司制造。
技术参数: |
|
测量范围 |
0-1500μm,0 - 60mils |
误差 |
±(1μm+1%读数) |
分辨率 |
0.1μm或小于读数的2% |
显示 |
背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 |
基体较小面积 |
5mmX5mm |
基体较小曲率 |
凸面:1.5mm凹面:5mm |
基体较小厚度 |
F型:0.2mm,N型:50μm |
校准 |
厂家校准,零校准,校准箔校准 |
数据接口 |
红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 |
0-50℃/60℃(可选配150℃) |
电源 |
两节1.5伏五号碱性电池 |
仪器尺寸 |
137x66x23mm |
符合标准 |
DIN,ISO,ASTM,BS |
分体式系列型号:
1、两用基本型膜厚仪 型号Surfix B FN
仪器1120201201基本型,特快反应速度,分体测头.可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层.量程:0-1500μm,全量程内误差<±1μm+1~3%读数,分辨率0.1μm.手机式外形和操作指南.背景光照明,较小碳化钨**耐磨测头
2、两用统计型膜厚仪 型号Surfix FN
仪器1120201203碳化钨**耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80测值,可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层,量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,特小基面积(5x5mm)有红外接PC及打印机
3、铁基基本型测厚仪 型号Surfix B F
仪器1120201205特快反应速度,分体测头。量程:0-1500μm,全量程内误差<±1μm+1~3%读数,分辨率0.1μm。手机式外形和操作指南。背景光照明,声音提示,世界较小碳化钨**耐磨测头,特小基面积(5x 5mm)
4、铁基统计型膜厚仪 型号Surfix F
仪器1120201207碳化钨**耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80个测值,可测铁基体上镀层和绝缘涂层,量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,声音提示,特小基面积(5x 5mm)有红外接PC与打印机
5、非铁基基本型膜厚仪 型号Surfix B N
仪器1120201209碳化钨**耐磨测头,特快反应速度,可测有色金属基体上的绝缘涂层以及铝氧化膜厚度,量程:1500μ m。分辨率:0.1μ m.背景光照明,声音提示,特小基面积(5x 5mm) ,手机式外形和操作指南
6、非铁基膜厚仪 型号Surfix N
仪器1120201211碳化钨**耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80个测值,可测有色金属基体上绝缘涂层,量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,声音提示,特小基面积(5x 5mm)有红外接PC及打印机
德国PHYNIX一体式测厚仪Surfix
特点:世界较新科技,手机外形,较小测面积菜单操作,分辨率0.1μm,两类基体,自动识别量程:0-1500μm,0-10mm,90°直角探头九种规格,统计值在线
显示德国PHYNIX公司制造。
一体式统计型:
Surfix PFN两用型适合所有金属基材的测量
Surfix PBFN(一体式基本型)
Surfix PF型适合钢铁基材的测量
Surfix PBF(一体式基本型)
Surfix PN型适合有色金属基材的测量
Surfix PBN(一体式基本型)
1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨**耐磨测头,特快反应速度
3.同屏显示数据统计值
4.可存储前80个测值
5.可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层
6.量程1500μm,精度±1μm+1%读数
7.分辨率0.1μm.背景光
9.有红外可接PC及打印机
技术参数:
测量范围 |
0-1500μm,0 - 60mils |
误差 |
±(1μm+1%读数) |
分辨率 |
0.1μm或小于读数的2% |
显示 |
背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 |
基体较小面积 |
5mmX5mm |
基体较小曲率 |
凸面:1.5mm 凹面:50mm |